WavePulser 40iX 高速互連分析儀通過單次采集提供對頻域和時域強(qiáng)大的表征洞察力。
在一次采集中獲得信號路徑的完整表征：
精確定位電路中的損傷：
WavePulser 40iX 軟件通過其深度工具箱提供互連和電路的輕松分析和建模：
WavePulser 40iX 高速互連分析儀是高速硬件設(shè)計人員和測試工程師理想的單一測量工具，具有矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 (VNA) 和時域反射儀 (TDR) 所缺乏的所有特性和功能。 進(jìn)行一次采集，然后在頻域和時域中進(jìn)行測量。
WavePulser 40iX 驗證、調(diào)試和解決串行數(shù)據(jù)電纜、通道、連接器、過孔、背板、印刷電路板以及芯片和 SoC 封裝中的互連問題。 它的設(shè)置和使用非常簡單。它提供了與網(wǎng)絡(luò)分析儀相同的結(jié)果，但價格只是其一小部分。
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WavePulser 40iX 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)是內(nèi)置的，因此校準(zhǔn)始終是自動、簡單和快速的。 與需要購買額外的外部校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)并需要手動連接進(jìn)行校準(zhǔn)的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀相比。 基于 TDR/TDT 的方法也獨立于設(shè)置，從而降低了校準(zhǔn)頻率。
WavePulser 40iX 提供時域反射計 (TDR) 階躍響應(yīng)和時間門控和/或仿真物理層響應(yīng)，無需對直流和低頻進(jìn)行外推 - 是高速串行數(shù)據(jù)互連分析的理想選擇。
WavePulser 40iX 高速互連分析儀通過一次采集測量單端和混合模式 S 參數(shù)。 無需重新獲取新數(shù)據(jù)即可更改設(shè)置并重新計算結(jié)果。
一次采集顯示所有測量結(jié)果：所有端口的混合模式回波和插入損耗； 差模和共模測量； 直流頻率響應(yīng)。 表格圖形用戶界面使閱讀結(jié)果簡單明了。
一個簡單的設(shè)置只需要輸入頻率和端口數(shù)量進(jìn)行單端采集。 選擇針對準(zhǔn)確性或速度或介于兩者之間的優(yōu)化的測試時間。 可以在軟件中重新配置端口，而無需重新連接到 DUT。 重新排序 Touchstone 文件中的 S 參數(shù)。
內(nèi)部電子校準(zhǔn)允許更快地開始測量并更有信心地進(jìn)行測量。 被動性、互易性和因果關(guān)系執(zhí)行等功能確保了更高的 S 參數(shù)測量精度。
WavePulser 40iX 高速互連分析儀以 < 1 mm 的空間分辨率測量阻抗曲線。
WavePulser 40iX 支持差模阻抗曲線和混合模式測量，并可同時顯示多種模式。 還可以查看階躍響應(yīng)、脈沖響應(yīng)和反射系數(shù)等。
使用阻抗曲線來檢測和定位高速串行數(shù)據(jù)互連中的常見問題：連接器松緊不當(dāng)；損壞的電纜；不正確的電纜彎曲半徑；傳輸線上的缺陷通孔; 其他傳輸線路異常。
阻抗曲線檢測和定位測量設(shè)置中的損傷，而不僅僅是在 DUT 上，幫助您提高工作效率。 了解何時需要重復(fù)校準(zhǔn)，何時不需要。
WavePulser 40iX 高速互連分析儀可以與 SI Studio 捆綁購買（WavePulser-40iX-BUNDLE），一款深度分析工具箱，專門用于理解高速串行數(shù)據(jù)互連特性。購買 NRZ 信號分析工具箱時，該工具箱作為標(biāo)準(zhǔn)配置提供。 WavePulser-40iX-BUNDLE。可以購買 WAVEPULSER-SISTUDIO-UPG-PAM，為 SI Studio 添加 PAM3 和 PAM4 信號分析功能
消除電纜和連接器對結(jié)果的影響。通過端口擴(kuò)展或阻抗剝離算法設(shè)置門控，并保存包含或不包含門控區(qū)域的S參數(shù)。使用建模或測量的S參數(shù)對串行數(shù)據(jù)通道進(jìn)行去嵌入處理。
導(dǎo)入或模擬波形，并使用S參數(shù)對損耗進(jìn)行建模。通過直觀的串行數(shù)據(jù)眼圖快速查看損耗的影響。查看去嵌入和均衡對眼圖的影響。支持PLL、預(yù)加重、去加重、CTLE、FFE和DFE。
測量總 (Tj)、隨機(jī) (Rj) 和確定性 (Dj) 抖動。 將確定性抖動分解為組成部分。 在頻譜、直方圖、抖動軌跡、眼圖和其他圖中查看抖動。