-
50,000 計(jì)數(shù)顯示
-
3.5” (320x240) TFTLCD 顯示屏
-
0.05 % 的高精度
-
1Amp 測試電流，0.1 μΩ 分辨率
-
每秒 60 個(gè)讀數(shù)的快速測量
-
四線電阻測量
-
溫度補(bǔ)償測量功能
-
延遲測量
-
20組面板設(shè)定記憶
-
干電路測試（僅限 T3MIL50X）
-
驅(qū)動(dòng)模式： T3MIL50X：DC+/DC-、脈沖、PWM、零、待機(jī) T3MIL50：DC+、待機(jī)
-
接口：USB Device、RS-232C、Handler/Scan/EXT I/O
多種驅(qū)動(dòng)模式（僅限 T3MIL50X）
T3MIL50X 為不同材料的測量應(yīng)用提供干電路和各種驅(qū)動(dòng)模式（DC+、DC-、脈沖、PWM）。 脈沖電流輸出方式適用于不同材料相互作用的導(dǎo)體，減少熱電動(dòng)勢對測量的影響。 熱電動(dòng)勢是由不同導(dǎo)體在進(jìn)行低電阻測量時(shí)作用于不同溫度時(shí)產(chǎn)生的電勢差引起的。 DC+ 和 DC- 輸出模式最適合電感元件的測量。 PWM輸出模式適用于溫度敏感材料的測量，避免長時(shí)間施加測量電流引起的電阻變化。 干電路測試用于檢測配合接觸表面上的污染物和氧化物。 通常，干電路測試與旨在在連接器接觸表面上產(chǎn)生污染或金屬氧化物的環(huán)境壓力測試一起執(zhí)行。 測試期間通過觸點(diǎn)的電流過大會(huì)導(dǎo)致接觸區(qū)域在微觀層面發(fā)生物理變化。 電流會(huì)導(dǎo)致發(fā)熱，從而軟化或熔化接觸點(diǎn)和周圍區(qū)域。 接觸面積增大，導(dǎo)致電阻減小。 為避免“擦掉”污染物，采用干電路法進(jìn)行測試。 干式電路是一種電壓和電流限制在不會(huì)導(dǎo)致接觸點(diǎn)的物理和電氣狀況發(fā)生變化的水平的電路。 一般開路電壓為20mV以下，短路電流為100mA以下。 干電路測量也可以在 DC+、DC- 和脈沖模式下進(jìn)行