主要功能
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支持測試 400 MHz、533 MHz、667 MHz、800 MHz、1066 MHz 和自定義速度的 DDR2 信號
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通過測量大量周期并報告統計結果來獲得對 DDR2 接口的信心的最快方法
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捕獲并在報告中顯示帶完整注釋的最壞情況測量屏幕截圖，包括信號標識和相關電壓電平
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Stop on test/failure功能允許用戶暫停并在示波器顯示屏上查看相應測試項的測量值
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完整覆蓋JESD79-2E 和 JESD208 JEDEC 規范以及 Intel DDR2 667/800 JEDEC 規范附錄 Rev. 1.1 和 Intel DDR2 400/ 533 JEDEC 規范附錄 Rev. 1.0 所述的測試項
Teledyne LeCroy QPHY-DDR2 測試解決方案是評估 DDR2 內存接口的最佳方式。 QPHY-DDR400能夠對533MHz、667 MHz、800 MHz、1066 MHz、2 MHz、XNUMX MHz 和自定義速度進行測量，具有符合JEDEC 規范和英特爾 JEDEC 規范附錄規定的全套時鐘、電氣和時序測試。
Teledyne LeCroy QualiPHY 平臺提供易于配置的用戶界面，允許自定義測試和結果范圍，向用戶顯示連接圖以確保正確連接，并生成包含所有結果的報告，報告包括每個測試項中最壞情況測試失敗的屏幕截圖。 此外，QPHY-DDR2 測試的所有波形都可以保存，以便輕松分享信息或在以后重新運行測試。
QPHY-DDR2 使用戶能夠提高對 DDR2 接口信號的信心。 由于 DDR2 信號易變，需要測量大量的周期。 通過在很短的時間內捕獲大量周期進行測試，用戶可以更加確信他們能捕捉到可信的最大和最小測量值。
除了對 DDR2 信號的自動特性測試，示波器的 QPHY-DDR2 還為 DDR2 信號提供強大的調試功能。 使用示波器中的所有高級串行數據工具，如SDA II、Eye Doctor? II、WaveScan? 等等，可以快速輕松地找到測試失敗的根本原因。
時鐘測試——執行相應 JEDEC 規范所描述的所有時鐘這些測試項。 包括平均時鐘周期、絕對時鐘周期、平均高/低脈沖寬度、絕對高/低脈沖寬度、半周期抖動、時鐘周期抖動、Cycle-to-cycle抖動和 n 周期測試的累積誤差。
電氣測試——測量 DDR2 信號的電氣特性。 如上所示，SoutR 測試項測量Data、Strobe和時鐘信號的斜率。 進行 1000 余次斜率測量，并在屏幕上顯示最差的情況。 信號名稱會注釋在屏幕截圖的信號上，方便理解。 此外，會通過光標向用戶顯示測量斜率的電壓電平。
時序測試——驗證特定 DDR2 事件之間的時序關系。 如上所示，tDQSCK 測試驗證的Strobe輸出訪問時間相對時鐘信號是否在相應 JEDEC 規范規定的限制范圍內。 在此測試中，對所有DDR5000讀信號進行了 2 次 tDQSCK 測量，并將最差情況顯示在屏幕上。
眼圖——眼圖是調試串行數據信號的強大工具。 QPHY-DDR2 使用戶能夠生成讀和寫Burst的眼圖，以確保信號完整性，使接收器正確采樣數據。
QualiPHY 具有許多預設的一致性配置，但也能讓用戶創建自己的配置和測試結果范圍。
連接圖提示用戶進行必要的連接。
一致性報告包含所有測試值、特定測試結果范圍和屏幕截圖。 合規報告可以創建為 HTML、PDF 或 XML。
QualiPHY
QualiPHY 旨在減少在執行高速串行總線一致性測試上所需要的時間、精力，并提供專業知識輔導。
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指導用戶完成每個測試設置
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按照相關的測試程序執行每次測量
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將每個測量值與相應的規格要求進行比較
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完整記錄所有結果
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QualiPHY 幫助用戶以正確的方式進行每一次測試！
規格
時鐘測試
tCK(avg) – 平均時鐘周期
tCH(avg) – 平均正脈沖寬度
tCL(avg) – 平均負脈沖寬度
tCK (abs) – 絕對時鐘周期
tCH(abs) – 絕對正脈沖寬度
tCL(abs) – 絕對負脈沖寬度
tJIT(duty) – 半周期抖動
tJIT(per) – 時鐘周期抖動
tJIT(cc) – Cycle to Cycle周期抖動
tERR(n per) – 累積誤差
高級調試
讀取周期數據和選通的眼圖
寫入周期數據和選通的眼圖
電氣測試
SlewR – 輸入上升沿斜率
SlewF – 輸入下降沿斜率
VIH(ac) – 交流輸入邏輯高電平
VIH(dc) – 直流輸入邏輯高電平
VIL(ac) – 交流輸入邏輯低電平
VIL(dc) – 直流輸入邏輯低電平
VSWING – 輸入信號最大值
峰峰值
SoutR – 輸出上升沿斜率
SoutF – 輸出下降沿斜率
tSLMR – 輸出斜率匹配比
交流過沖峰值幅度
高于 VDDQ 的交流過沖Area
交流下沖峰值幅度
VSSQ 以下的交流下沖Area
VID(ac) – 交流差分輸入電壓
VIX(ac) – 交流差分輸入交叉點電壓
VOX(ac) – 交流差分輸出交叉點電壓
時序測試
tHZ(DQ) – 從 CK/CK# 開始的 DQ 高阻抗時間
tLZ(DQ) – 從 CK/CK# 開始的 DQ 低阻抗時間
tLZ(DQS) – 從 CK/CK# 開始的 DQS 低阻抗時間
tHP – CK 半脈沖寬度
tQHS – DQ Hold Skew Factor
tQH – DQS 的 DQ/DQS 輸出保持時間
tDQSH – DQS 輸入正脈沖寬度
tDQSL – DQS 輸入負脈沖寬度
tDSS – DQS 下降沿到 CK 建立時間
tDSH – DQS Falling Edge Hold Time from CK
tWPRE——寫前導
tWPST – 寫后導
tRPRE——讀前導
tRPST - 讀后導
tDQSQ – DQS 和 DQ 之間的時延
tDQSS – DQS Latching Transition to Clock Edge
tDQSCK – 從 CK/CK# 開始的 DQS 輸出訪問時間
tAC – 從 CK/CK# 開始的 DQ 輸出訪問時間
tDS(base) – DQ 和 DM 輸入建立時間
tDH(base) – DQ 和 DM 輸入保持時間
tIS(base) – 地址和控制輸入建立時間
tIH(base)——地址和控制輸入保持時間
tDS1(base)——DQ 和 DM 輸入建立時間（單端選通）
tDH1(base) – DQ 和 DM 輸入保持時間（單端選通）