主要功能
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支持 100Base-T1 (IEEE 802.3bw)、BroadR-Reach 和 TC8
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高度自動化且易于使用
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內(nèi)置自動 S 參數(shù)校準(zhǔn)
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自動將電纜反嵌到測試夾具
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生成帶有通過/失敗結(jié)果的報告
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支持所有 MDI S 參數(shù)測試
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MDI 回波損耗 (Sdd11)
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MDI 模式轉(zhuǎn)換損耗 (Sdc11)
自動化一致性測試
QPHY-100Base-T1-TDR 根據(jù) 100Base-T1、BroadR-Reach 和 TC8 規(guī)范執(zhí)行物理媒體附件 (PMA) 的 MDI S 參數(shù)一致性測試。 詳細(xì)的連接圖確保正確設(shè)置。 測試會話完成后，結(jié)果會自動編譯成包含屏幕截圖的綜合通過/未通過報告。
S 參數(shù)自動校準(zhǔn)和電纜去嵌入
QPHY-100Base-T1-TDR 自動執(zhí)行所需的參考平面校準(zhǔn)，并自動去嵌入用于連接測試夾具的電纜。
MDI 回波損耗 (Sdd11)
回波損耗是在介質(zhì)相關(guān)接口 (MDI) 處測量的，它是由于阻抗失配而反射的差分信號功率與差分入射信號（差分對差分）的功率之間的比率。 此外，還測量了差分特性阻抗，對于 100BASE-T1 和 1000Base-T1 兼容設(shè)備，理想情況下為 100Ω。
MDI 模式轉(zhuǎn)換損耗 (Sdc11)
模式轉(zhuǎn)換損耗在 MDI 處測量，它是由于阻抗失配而反射的差分信號功率與 DUT 和單獨(dú)測試夾具。
此外，還測量了差模和共模特性阻抗，對于 100BASE-T1 和 1000Base-T1 兼容設(shè)備，理想情況下分別為 100Ω 和 25Ω。
可靠的測試夾具表征
在測量 MDI S 參數(shù)和模式轉(zhuǎn)換損耗時，測試設(shè)置中布線和測試夾具的阻抗平衡至關(guān)重要。 WavePulser 40iX 測量電纜和測試設(shè)備的阻抗曲線，以確保兩個信號 D+ 和 D- 的路徑相同，從而不會因電氣差異而產(chǎn)生模式轉(zhuǎn)換。 用于將 DUT MDI 連接到測試設(shè)備的測試夾具的精確表征提供了信心，即與 MDI 要求相比，使用中的夾具具有足夠的模式轉(zhuǎn)換損耗裕度。