主要功能
-
支持DDR2/3/4/5 和 LPDDR2/3/4/4倍/5/5倍
-
測試速度高達(dá) 8533 MT/s
-
支持設(shè)計(jì)的合規(guī)階段的早期開啟
-
集成到 MAUI 中并由 QualiPHY 用于故障分析
-
多場景查看 – 分析和比較最多 4 個(gè)查看區(qū)域的不同設(shè)置。
-
包括 DDR JEDEC 定義的測量和抖動分析
-
包括 DDR JEDEC 定義的眼圖和模板測試
-
僅限行業(yè)的命令總線解碼和觸發(fā)高達(dá) DDR5
DDR 觸發(fā)和解碼
命令總線是主機(jī)和 DDR DRAM 通信的核心部分。 執(zhí)行早期驗(yàn)證測試不僅意味著電氣驗(yàn)證，還意味著協(xié)議。 示波器可以根據(jù) JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)中指定的命令真值表中的 20 多個(gè)協(xié)議命令進(jìn)行解碼和觸發(fā)。 然后使用解碼的命令總線通過高精度的 R/W 分離功能來加速眼圖和測量分析階段。
多場景查看
通過 4 個(gè)獨(dú)特的分析查看區(qū)域加速預(yù)合規(guī)測試和微調(diào)階段。 這些查看區(qū)域各自可以代表自己的通道選擇（特定于寫入或讀取）、進(jìn)行 DDR 測量、眼圖、模板測試等。 使工程師能夠測試數(shù)據(jù)、選通脈沖或時(shí)鐘測試點(diǎn)、分析串?dāng)_、比較新設(shè)計(jì)以及調(diào)試和根本原因設(shè)計(jì)問題。
JEDEC 定義的眼圖、模板測試
專門針對 DDR 讀或?qū)憯?shù)據(jù)包執(zhí)行特定的眼圖測試、高度和寬度開口測量。 然后使用 JEDEC 定義的掩碼來測試數(shù)據(jù)或 CA 寫入突發(fā)。
DDR 特定測量
每個(gè)查看區(qū)域都可以提供在雙向采集中捕獲的 DDR 特定讀取或?qū)懭胄盘柕慕y(tǒng)計(jì)結(jié)果。 根據(jù) JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行突發(fā)、Vref、VOH、VOL、建立和保持、時(shí)滯、轉(zhuǎn)換速率、各種抖動和時(shí)序特定測量。